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EXF镀层测厚仪可测量各种金属涂层的厚度
发布时间:2019-04-24   点击次数:129次
   EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是,由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差,为了保证测量结果的准确性和可靠性,有必要进行不确定性分析。
 
  EXF镀层测厚仪可同时测量磁性基材表面的非磁性涂层(如钢铁)(如油漆、陶瓷、铬等)和非磁性金属基材表面的非导电涂层(如油漆等)。仪器内置高精度集成探头,可通过电磁感应和涡流效应自动检测衬底性能和镀层厚度,并可通过晶格液晶快速显示结果。同时,测量数据可以成组保存,统计数据可以实时显示。用户可为每组设置上、下报警值、零位校准和多点校准。全新多点校准和零点校准,使您随时进行校准非常方便。标准化菜单,确保您可以轻松使用它们。
 
  塑料工业电镀、电子材料、电镀(连接器、半导体、电路板、电容器等),钢铁材料涂层(铁、铸铁、不锈钢、合金、低表面处理钢板,等等)和有色金属材料涂层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)和各种其他涂层厚度测量和成分分析。EXF镀层测厚仪是一种非接触式无损检测方法,但该装置复杂、成本高、测量范围小。由于有放射源,用户必须遵守辐射防护规定。X射线法可测量极薄镀层、双镀层、合金镀层。射线法适用于涂层和基体原子序数大于3的涂层测量。电容法仅用于测量薄导电体上绝缘涂层的厚度。
 
  EXF镀层测厚仪测量磁性金属基体条件(如钢、铁、合金和硬磁性钢、等)的磁性涂层厚度(如铝、铬、铜、搪瓷、等)、橡胶、油漆和非磁性金属基质(如铜、铝、锌、锡等)在导电涂层厚度(如:搪瓷、塑料、橡胶、油漆、等)。涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作方便等特点。EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是,由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差,为了保证测量结果的准确性和可靠性,有必要进行不确定性分析。
 
  EXF镀层测厚仪中原子的性质是由原子序数决定的,即轨道中质子数或电子数,具体x射线能量与原子序数的关系如图所示。K辐射的能量远高于L辐射的能量。涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测,测量手段繁琐、速度慢,更适合抽样检查。
 
  EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可测量各种金属涂层的厚度,包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。当样品受到X射线照射时,样品中所含涂层或基体材料元素的原子受到激发后会发射出自己特有的X射线。不同的元素有不同的X射线特性。当探测器探测到这些特征x射线时,它会把它们的光信号转换成模拟电信号。模拟电信号经模数转换器转换为数字信号,送入计算机进行处理。根据计算机专用应用软件获得的谱峰信息,通过数据处理确定镀层样品中各元素的类型和各元素的厚度。

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